Test equipment

Test equipment

Industry: Semiconductors

Tilføj et nyt ord

Contributors in Test equipment

Become a Contributors

Test equipment

funktionelle undertrykkelse af netbårne

Semiconductors; Test equipment

På outputtet af en funktionel makro (f.eks en sub kredsløb som en forstærker) repræsenterer funktionel undertrykkelse af netbårne afvigelse af output fra dens pålydende værdi på grund af en blød ...

automatisk testudstyr (ATE)

Semiconductors; Test equipment

En automatiseret, normalt computer-drevet, tilgang til afprøvning af halvledere, elektroniske kredsløb og trykte kredsløb bestyrelsen forsamlinger.

hukommelse indbygget self test (MBIST)

Semiconductors; Test equipment

BIST tilgang, der er specifikke for hukommelse test.

funktionelle forkonditionering

Semiconductors; Test equipment

Indstille en logik enhed (for eksempel en counter) til en ønskede tilstand ved at anvende stimulus (sekventering gennem funktionelle test vektorer) og kontrollere output, indtil den ønskede tilstand ...

driver

Semiconductors; Test equipment

Software, der styrer en bestemt hardwareenhed, f.eks en dataopsamling bord eller en printer.

brugerdefineret logik (UDL)

Semiconductors; Test equipment

Særlige formål logik tilføjet af SOC chip integrator (f.eks. ikke en købt IP), til brug som "lim" logik eller en del af systemet chip produkt differentiator.