11 Terms
Home > Branche/domæne > Semiconductors > Test equipment
Test equipment
Industry: Semiconductors
Tilføj et nyt ordContributors in Test equipment
Test equipment
microoptoelectromechanical systemer (MOEMS)
Semiconductors; Test equipment
MEMS enheder, som omfatter optiske komponenter, såsom micromirrors.
metode af øjeblikke (mor)
Semiconductors; Test equipment
MOR teknik er almindeligt anvendt til analyse af udstrålede elektrisk felt emissioner forårsaget af common-mode strømninger på skab/boks, stik og kabler som følge af PCB-emissionerne.
flere input / output-flere kommunikation (MIMO)
Semiconductors; Test equipment
en abstrakt matematisk model for flere antenne kommunikationssystemer hvor senderen har flere antenner kan overføre uafhængige signaler og modtageren er udstyret med flere modtage antenner. Special, ...
millioner instrictions i sekundet (MIPS)
Semiconductors; Test equipment
En gammel foranstaltning af en computer hastighed og kraft, MIPS måler omtrent antallet af maskininstruktioner, som en computer kan udføres i et sekund. Imidlertid forskellige instruktioner kræver ...
multivibrator
Semiconductors; Test equipment
En klasse af kredsløb designet til at producere firkantede bølger eller bælgfrugter. Astable multivibrators producere kontinuerlig pulser uden en ekstern stimulus eller udløser. Monostabil ...
Composite sync
Semiconductors; Test equipment
Et videosignal, som indeholder vandret-sync impulser, lodret-sync impulser og equalizer pulser kun, med en no-signal referenceniveau.
stien forsinkelse
Semiconductors; Test equipment
Skyld karakteriseret ved en bestemt logik stien er for langsom til at opfylde overordnet timing kravene i et kredsløb.
