![](/template/termwiki/images/likesmall.jpg)
Home > Branche/domæne > Semiconductors > Test equipment
Test equipment
Industry: Semiconductors
Tilføj et nyt ordContributors in Test equipment
Test equipment
baggrund
Semiconductors; Test equipment
I en personlig computer programmeret operationer, der finder sted uden direkte brugerindgriben; for eksempel, netværk operationer, trykning og display forfriskende.
forgrund
Semiconductors; Test equipment
I en personlig computer, aktivitet underlagt direkte brugerindgriben. Baggrund aktiviteter kan køre på computeren samtidigt.
DC scanning
Semiconductors; Test equipment
Form for scanning hvor skiftende og prøvetagning opstår langt under enheder normale driftsfrekvens. Denne type scanning er effektiv for en «rene» strukturel tilgang (dvs. for fast på fejl) og ...
dataopsamling (DAQ)
Semiconductors; Test equipment
Indsamling af oplysninger fra kilder såsom sensorer og transducere.
Boundary scan
Semiconductors; Test equipment
Fællesbetegnelse for IEEE 1149.1. Det er en metode, der tillader komplet kontrollerbarhed og Observerbarhed af grænsen (I/O) pins via en standard interface. (AKA JTAG)