8 Terms
Home > Branche/domæne > Semiconductors > Test equipment
Test equipment
Industry: Semiconductors
Tilføj et nyt ordContributors in Test equipment
Test equipment
I/O kanal
Semiconductors; Test equipment
En input/output tester porten, der er i stand til at stimulere en enhed pin såvel overvågning et svar fra den samme pin.
gennemsnit
Semiconductors; Test equipment
Matematisk udjævning resultaterne af flere målinger ved at tilføje dem og dividere med antallet af prøver.
Cross graduering
Semiconductors; Test equipment
Graduering af en ønsket signal af et uønsket signal. Dette er et særligt tilfælde af inter graduering.
fælles test aktionsgruppe (JTAG)
Semiconductors; Test equipment
Oprindeligt, navnet på holdet, gennem et ikke ualmindeligt twist af skæbne, begrebet er kommet til at være forbundet med produktionen af holdet. JTAG er nu stort set synonymt med IEEE 1149.1 standard ...
filnavn
Semiconductors; Test equipment
En del af identifikationen bruges til at finde en fil på en diskenhed.
test adgangsport (TAP)
Semiconductors; Test equipment
Del af JTAG standard, HANEN er en 4 (eller valgfrit 5) pin port hen til muliggøre boundary scan.
Counter (1)
Semiconductors; Test equipment
I software, en hukommelsesplacering, som bruges til at gemme en optælling af visse hændelser. (2) i hardware, et kredsløb, der tæller begivenheder.
